国家知识产权局信息显示，厦门宇树康信息技术有限公司申请一项名为 " 一种检测透明平板间隙的光学相干断层成像方法和系统 " 的专利，公开号 CN121631993A，申请日期为 2026 年 2 月。
专利摘要显示，本发明涉及一种检测透明平板间隙的光学相干断层成像方法和系统，包含以下步骤：S1，获取通过光学相干断层成像系统得到的原始光谱信号，划分为短波段、中波段和长波段，并将各波段中的所述原始光谱信号分别建模为对应的理想信号、系统退化项、干扰项组成；S2，基于大数据模型学习不同底层影响原因在各波段中对系统退化项和干扰项的变化趋势以及对应的影响权重；S3，根据所述原始光谱信号的各波段分别进行特征提取，并基于所述特征推断得到各波段对应的变化趋势以及对应的影响权重构建等效退化因子，在预设物理约束条件下，对所述原始光谱信号的各波段进行退化补偿修正，对光谱信号中的残余干扰进行抑制修正，从而重构得到所述理想信号；S4，反演得到待测物的真实物理厚度。
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作者：情报员
